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公司基本資料信息
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高壓陶瓷電容器的可靠性測試,也叫老化測試,壽命測試,包括很多方面的測試內(nèi)容:
1.耐壓實驗,包括額定工作電壓24小時工作測試;也包擊穿耐壓,即破壞性測試,電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。
2.串聯(lián)電阻測試,絕緣電阻測試;
3.拉力測試,即引線與芯片焊接的牢固度;
4.正負溫度變化率測試,即-40度到+60度狀況下,電容的變化率;
5.老化測試,電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運作30~60天,測試其衰減其各項參數(shù)的變化;
6.壽命測試,即在老化測試的基礎(chǔ)上,再對電容進行高頻沖電流下快速充放電測試,得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命,注意,這個壽命的得出事在長時間的老化之后得出的。
7.局放測試,即局部放電測試;
當然,在這些測試過程中,我們可以得出各種參數(shù),如額定電壓,穿擊電壓,過電流,工作頻率,絕緣電阻等。每一種電容在研發(fā)與生產(chǎn)配料再次生產(chǎn)時,都要重新進行測試,才能準確半段產(chǎn)品是否合格。以上資訊來自東莞市智旭電子有限公司研發(fā)部提供,更多資訊請大家移步至網(wǎng)站中智旭資訊中獲取。